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發布時間:2022-04-02 20:06:58 作者:學術小編 來源:www.derer.cn
幾乎在所有探測器中都存在這種噪聲。 它主要出現在大約 1KHz以下的低頻頻域,而且與光輻射的調制頻率f成反比,故 稱為低頻噪聲或1/f 噪聲。 實驗發現,探測器表面的工藝狀態 (缺陷或不均勻等)對這 種噪聲的影響很大,所以有時也稱為表面噪聲或過剩噪聲。 一般說,只要限制低頻端的調制頻率不低于1千赫茲,這 種噪聲就可以防止。 1)產生原因 ?電流噪聲的均方值可用經驗公式表示為: 為比例系數,與探測器制造工藝、電極接觸情況、半導體表面狀態及器件尺寸有關;a為與材料有關的常數,通常在0.8— —1.3之間,大多數材料可近似取為1;b與流過器件的電流I有關, 通常取值2; ?主要出現在lkHz以下的低頻區。 2)度量1)產生原因 熱探測器通過熱導G與處于恒定溫度的周圍環境交換熱能。